1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, x-ray and ion beams

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)

موضوع : ، Materials - Microscopy

رده :
TA
418
.
7
.
B6
1975b

2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع : ، Semiconductors- Design and construction- Quality control,، Integrated circuits- Measurement,، Semiconductor wafers- Inspection,، X-rays- Diffraction,، Fluroscopy

رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006